CN / EN
文档反馈
感谢关注汇顶文档,期待您的宝贵建议!
感谢您的反馈,祝您愉快!

特性

  • 集成控制器和主机层的低功耗蓝牙5.1收发器
    • 支持数据传输速率:1 Mbps、2 Mbps、LR(500 kbps、125 kbps)
    • 发射功率:-20 dBm ~ +7 dBm
    • -96 dBm接收灵敏度(1 Mbps模式下)
    • -93 dBm接收灵敏度(2 Mbps模式下)
    • -99 dBm接收灵敏度(LR 500 kbps模式下)
    • -102 dBm接收灵敏度(LR 125 kbps模式下)
    • 发射功耗:5.6 mA @ 0 dBm,1 Mbps
    • 接收功耗:4.8 mA @ 1 Mbps
  • 内置ARM® Cortex®-M4F 32位微处理器,支持浮点运算
    • 时钟频率可达64 MHz
    • 内置内存保护单元(MPU),提供8个可编程的区域
    • 浮点运算器(FPU)
    • 内置嵌套矢量中断控制器(NVIC)
    • 不可屏蔽中断(NMI)输入
    • 串行调试(SWD),提供6个断点、2个监视点和1个时间戳计数器
    • 在3.3 V、64 MHz条件下,微处理器运行在Flash上的功耗为51 µA/MHz
  • 片上存储
    • GR5515系列芯片采用256 KB SRAM(4个8 KB的SRAM内存块和7个32 KB的SRAM内存块);GR5513芯片采用128 KB SRAM(4个8 KB的SRAM内存块和3个32 KB的SRAM内存块);均支持备份
    • 8 KB Cache SRAM,支持备份
    • Stack ROM(包含Boot ROM和BLE Stack)
    • GR5515系列芯片采用1 MB内部QSPI Flash,GR5513芯片采用512 KB内部QSPI Flash(例外:GR5515I0NDA使用外部QSPI Flash;GR5515IENDU采用512 KB内部Flash)
  • 数字外设
    • 1个通用DMA引擎,支持8路通道和16个握手接口
  • 模拟外设
    • 单个13位逐次逼近式ADC(SNSADC),采样率1 Msps,最多可支持5路外部I/O通道与3路内部信号通道
    • 内置温度和电压传感器
    • 低功耗比较器,支持从深度睡眠模式唤醒
  • 灵活的串行外设
    • 2路QSPI接口,最高达32 MHz
    • 2个UART模块,速率最高可达4 Mbps,均支持流量控制,仅UART0支持DMA
    • 2个I2C模块用于支持外设通信,传输速率最高可达2 MHz
    • 2路SPI接口(1路SPI Master接口,1路SPI Slave接口),用于主控通信,最高达32 MHz
    • 2路I2S接口(1路I2S Master接口,1路I2S Slave接口)
    • 1路ISO7816 接口
  • 安全
    • 提供完善的安全计算引擎:
      • AES 128-bit/192-bit/256-bit对称加密(ECB和CBC)
      • HMAC-SHA256哈希加密算法
      • PKC
      • TRNG
    • 提供全面的安全运行机制:
      • 安全启动
      • 加密固件直接从Flash运行
      • 密钥加密后存储至eFuse中
      • 区分应用数据秘钥与固件秘钥,支持一机一密
  • I/O外设
    • 共计39个I/O引脚
      • 26个GPIO
      • 8个AON I/O,支持从深度睡眠模式唤醒
      • 5个MSIO,可配置为数字/模拟信号接口
  • 定时器
    • 2个32位通用定时器模块
    • 1个定时器模块,包含2个32位/16位可编程递减计数器
    • 1个内部睡眠定时器,可将设备从深度睡眠模式唤醒
    • 2个PWM模块,各支持3路通道,支持边缘对齐模式与中间对齐模式
    • 1个RTC,可用作日历定时器
    • 1个AON WDT,可在系统睡眠和Active状态下工作
  • 电源管理
    • 片内DC-DC转换器,为RF模拟模块与芯片Core LDO供电
    • 片内I/O LDO稳压器,为I/O供电,也可为外围器件供电,最大驱动能力为30 mA
    • 可编程的掉电检测(BOD复位和BOD中断)阈值电压
    • 电源电压:2.2 V ~ 3.8 V;当GR5515I0NDA选择外部高压Flash时,供电电压必须等于外部QSPI Flash的工作电压
    • I/O电压:1.8 V ~ 3.3 V(典型值);当GR5515I0NDA/GR5515IENDU/GR5513BENDU Flash使用高压供电时,应用电路中必须将VIO_LDO_OUT的引脚连接到VBATL
  • 低功耗模式
    • Deep Sleep模式:2.7 µA(典型值),此时256 KB SRAM处于保持状态
    • Ultra Deep Sleep模式:1.8 µA(典型值);无SRAM备份
    • OFF模式:0.15 µA(典型值);除VBAT外均断电,芯片处于复位模式
  • 封装类型
    • QFN56:7 mm x 7 mm,间距0.40 mm
    • BGA68:5.3 mm x 5.3 mm,间距0.50 mm
    • BGA55:3.5 mm x 3.5 mm,间距0.40 mm
    • QFN40:5 mm x 5 mm,间距0.40 mm
  • 工作温度范围:-40°C ~ +85°C

扫描关注

打开微信,使用“扫一扫”即可关注。